掃描探針顯微鏡（SPM）是顯微鏡的一個(gè)分支，使用掃描樣本的物理探針形成表面圖像。SPM成立于1981年，發(fā)明了掃描隧道顯微鏡，這是一種在原子水平成像表面的儀器。第一次成功的掃描隧道顯微鏡實(shí)驗(yàn)由Binnig和Rohrer完成。他們成功的關(guān)鍵是使用反饋回路來(lái)調(diào)節(jié)樣品和探針之間的間隙距離。(蒲柘光電顯微鏡版塊發(fā)布)
許多掃描探針顯微鏡可以同時(shí)成像幾種相互作用。使用這些交互來(lái)獲得圖像的方式通常稱為模式。
從技術(shù)到技術(shù)，分辨率有所不同，但一些探測(cè)技術(shù)達(dá)到了相當(dāng)令人印象深刻的原子分辨率。這主要是因?yàn)閴弘妶?zhí)行器可以在原子水平上精確和準(zhǔn)確地執(zhí)行運(yùn)動(dòng)，或者更好地執(zhí)行電子指令。這一系列技術(shù)可稱為“壓電技術(shù)”。另一個(gè)共同點(diǎn)是，數(shù)據(jù)通常作為數(shù)據(jù)點(diǎn)的二維網(wǎng)格獲得，以偽彩色可視化為計(jì)算機(jī)圖像。(蒲柘光電顯微鏡版塊發(fā)布)
(文章轉(zhuǎn)自WIKI)