科研級三目正置金相顯微鏡XJ-52C適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別,電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學顆粒的分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器??偡糯蟊稊?shù):50X-800X
◆性能特點:
1、系統(tǒng)配置了大尺寸、大范圍移動載物臺,適合大工件的檢查。
2、采用大視野目鏡和長距平場物鏡,視場寬闊、平坦,成像清晰。
3、采用“T”型防振結(jié)構(gòu)設(shè)計,機械載物臺可慢速或快速移動試樣。
4、整機采用了防霉處理,保護了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。
5、配置了偏光裝置并可選配暗場、微分干涉裝置,拓展了功能。。
6、兩路光路自由切換輸出,一路用于觀察,一路連接攝像裝置。
◆典型應(yīng)用:
1、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。
3、觀察材料表面的某些特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。