原子力顯微鏡（AFM）分析、電鏡（SEM）是對(duì)材料表征微觀組織進(jìn)行分析。對(duì)樣品要求很高。要求樣品表面既不能有微小變形也不能有應(yīng)力。振動(dòng)拋光機(jī)即研磨拋光，去除樣品表面機(jī)械化制樣后殘留的細(xì)微變形層，消除樣品的表面應(yīng)力，又能融入工件表面的精拋光，提高樣品表面光潔度。完全滿足材料表征微觀組織分析樣品要求。
北京科技大學(xué)購(gòu)買(mǎi)我震動(dòng)拋光機(jī)用于電子背散射衍射 (EBSD)分析。
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