金屬覆蓋層鍍層測量顯微鏡55C-FG主要檢測通過對經(jīng)過切割、鑲嵌、磨拋、腐蝕處理過的橫截面，來測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度。該顯微鏡測量系統(tǒng)采用光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代攝像成像融為一體的圖像測量技術(shù)，具有成像清晰。測量精確等特點，同時測量結(jié)果可以圖文形式保存。
上海公司（總部）
電話：021-31229638 31229639
傳真：021-31229639
郵箱：shpzgd@163.com
Q Q：1662367219
地址：上海市松江區(qū)洞涇鎮(zhèn)沈磚公路5555弄
北京分公司
全天：13601278945
地址：北京市昌平區(qū)沙河鎮(zhèn)辛力屯村北西路6號B區(qū)2103房間
天津辦事處
全天：18920418771
13601155230
郵箱：2522294046@qq.com
Q Q：2522294046
地址：天津市南開區(qū)新南馬路五金城
金屬覆蓋層鍍層測量顯微鏡55C-FG主要檢測通過對經(jīng)過切割、鑲嵌、磨拋、腐蝕處理過的橫截面，來測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度。該顯微鏡測量系統(tǒng)采用光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代攝像成像融為一體的圖像測量技術(shù)，具有成像清晰。測量精確等特點，同時測量結(jié)果可以圖文形式保存。