我公司推出系列太陽能電池生產(chǎn)過程中的太陽能電池硅片檢查顯微鏡。該顯微鏡采用了光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代成像分析融為一體的圖像測(cè)量技術(shù),可對(duì)太陽電池生產(chǎn)過程中每個(gè)環(huán)節(jié)產(chǎn)生的表面缺陷進(jìn)行細(xì)微的檢查和測(cè)量。不僅可以檢查太陽能電池表面顏色色差,絨面色斑,亮斑,裂紋,穿孔,崩邊,掉角,缺口,印刷偏移;主、副柵線、背電極的斷線,缺損,扭曲,變色等缺陷。還可對(duì)雜質(zhì)、殘留物成分進(jìn)行分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無機(jī)雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等,造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍(lán)、發(fā)黑等現(xiàn)象,同時(shí)可以測(cè)量太陽能電池片裂紋長(zhǎng)度,崩邊長(zhǎng)度角度,印刷位移角度偏差以及主、副柵線,背電極的寬度、均勻度,柵線間距離及副柵線到電池邊的距離,柵線、斷線長(zhǎng)度,斷線缺損和變色的面積等。系統(tǒng)配置了無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)的三目透反射顯微鏡XJ-55C、500萬高清晰數(shù)字?jǐn)z像頭及圖像測(cè)量管理軟件,可對(duì)太陽能電池板圖像進(jìn)行檢查、拍照、測(cè)量、編輯和保存輸出等多種操作。
產(chǎn)品介紹見我公司材料科學(xué)網(wǎng)站:http://www.pzgdsh.com/product/gzclfxxwj/tyngpjcxwj/