葉蛇紋石（成分為Mg3-xSi20（0H）。-2x）（晶體顯微鏡）的波狀結(jié)構(gòu)是調(diào)幅結(jié)構(gòu)的具體表現(xiàn)，這是由于八面體氫氧層與四面體硅氧層間結(jié)構(gòu)的不相稱（差異）引起的（圖6.17）。這些正弦波狀的畸變區(qū)域的寬度常大于4nm。在高分辨率透射電子顯微鏡下，可以很容易觀察到這種結(jié)構(gòu)的圖像。圖6.18顯示了葉蛇紋石的規(guī)則調(diào)幅結(jié)構(gòu)，其調(diào)幅波長為4.5~5nm，調(diào)幅方向是垂直于c”軸的黑帶。
上海蒲柘光電金相顯微鏡