金屬覆蓋層測(cè)量顯微鏡55C-FG采用了光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代攝像成像融為一體的圖像測(cè)量技術(shù),通過(guò)檢測(cè)橫截面,以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度。同時(shí)完全符合GB T 12334-2001 金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)及對(duì)應(yīng)IS0 2064:1996標(biāo)準(zhǔn),GB T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法及對(duì)應(yīng)IS0 1463:2003。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、 采用光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代成像測(cè)量融為一體的圖像測(cè)量技術(shù)
2、 攝像系統(tǒng)配置了CCD數(shù)字?jǐn)z像頭,圖像更清晰
3、 實(shí)現(xiàn)了一鍵測(cè)量、一鍵保存。完全取代手工測(cè)量繁瑣過(guò)程