15JF測量顯微鏡(數(shù)顯型)是光學(xué)計量儀器之一種,采用LED上下可調(diào)光源,X、Y測量結(jié)果均采用3”TFT顯示屏直讀,公英制轉(zhuǎn)換。結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,適用范圍極廣。總放大倍數(shù):25X-100X
主要用途:
1、直角坐標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,內(nèi)、外圓直徑等等。
2、轉(zhuǎn)動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進行角度測量。
3、用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。
一、光學(xué)系統(tǒng)參數(shù):
01 |
目鏡 |
10X 帶十字尺 焦距:25.00mm |
02 |
物鏡 |
2.5X/0.08 焦距:43.40mm |
10X/0.25 焦距:17.13mm |
03 |
顯微鏡放大倍數(shù) |
25X |
100X |
04 |
工作距離 |
58.84mm |
7.81mm |
05 |
視場直徑 |
5.60mm |
1.40mm |
二、其他參數(shù):
測量工作臺讀數(shù)裝置主要規(guī)格 |
01 |
X—軸移動測量范圍 |
50mm |
02 |
Y—軸移動測量范圍 |
13mm |
03 |
工作臺數(shù)顯讀數(shù)裝置分度值 |
0.0001mm |
04 |
測量臺轉(zhuǎn)動范圍 |
不限 |
05 |
測量臺刻度盤分度范圍 |
0° -360 ° |
06 |
測量臺刻度盤之分度值 |
1° |
07 |
測量臺刻度盤游標讀數(shù)示值 |
6′ |
測量精度 |
01 |
儀器示值誤差 |
±(5+L/15)μm L—被測件長度(mm) |
02 |
儀器示值誤差 |
包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。 |
03 |
測量地點溫度變化 |
(20°C±3°C) |
儀器主要尺寸 |
01 |
測量臺與物鏡之間最大距離 |
80mm |
02 |
測量工作臺直徑 |
120mm |
03 |
儀器外形尺寸 |
(長×寬×高)262×220×425mm |
04 |
儀器重量 |
約11.0㎏ |